发明名称 |
Thermometer für Mehrwellenlängen-Strahlungen und Verfahren zur Messung einer Temperatur von Mehrwellenlängen-Strahlungen |
摘要 |
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur gleichzeitigen Realisierung einer hochpräzisen Messung sowohl einer Temperatur als auch einer Form und stellt ein Thermometer für Mehrwellenlängen-Strahlungen bereit, das mit einer Blende versehen ist, welche teilweise ein von einem zu untersuchenden Objekt erzeugtes Wärmestrahlungslicht abblendet, einem zweidimensionalen diffraktiven Element, welches ein die Blende durchdrungen habendes Wärmestrahlungslicht je nach dem Wellenlängenbereich dispergiert, und einem zweidimensionalen Sensor, welcher das durch das zweidimensionale diffraktive Element dispergierte Wärmestrahlungslicht erfasst. |
申请公布号 |
DE112014003549(T5) |
申请公布日期 |
2016.05.12 |
申请号 |
DE20141103549T |
申请日期 |
2014.07.29 |
申请人 |
HITACHI, LTD. |
发明人 |
Taniguchi, Atsushi;Watanabe, Masahiro;Hariyama, Tatsuo;Kasai, Hiroaki;Miyamoto, Atsushi |
分类号 |
G01J5/48;G01B11/24 |
主分类号 |
G01J5/48 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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