发明名称 Elektronenmikroskop
摘要 Es wird ein Elektronenmikroskop beschrieben, bei dem ein Detektor, an den eine Spannung angelegt werden muß, zum Erhalten einer Mikrofotographie von einer Probe verwendet wird, die sich in einer Gasatmosphäre befindet. Das Elektronenmikroskop ist mit einer Gaseinlaßvorrichtung zur Abgabe von Gas auf die Probe versehen, und eine Gassteuervorrichtung steuert die Gasmenge, die von der Gaseinlaßvorrichtung abgegeben wird, derart, daß während der Gasabgabe durch die Gaseinlaßvorrichtung der Vakuumgrad in dem Raum mit dem Detektor (49–51, 55) kontinuierlich auf kleiner als ein eingestellter Wert gehalten wird.
申请公布号 DE112014003791(T5) 申请公布日期 2016.05.12
申请号 DE20141103791T 申请日期 2014.03.14
申请人 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 Yotsuji, Takafumi;Oyagi, Toshiyuki
分类号 H01J37/28;H01J37/22;H01J37/244;H01J37/26 主分类号 H01J37/28
代理机构 代理人
主权项
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