一种基于差分与卷积核的线采样高光谱数据目标探测方法

摘要

本发明公开了一种基于差分与卷积核的线采样高光谱数据目标探测方法，其步骤如下：一、高光谱数据预处理，去除水分波段并进行去均值化处理；二、选择合适的步长对数据进行线采样，进行差分运算与卷积运算获得衡量采样长方体的特征值；三、选用合适的阈值特征值进行处理，超过阈值的区域即包含目标点；四、重复步骤二和三，直至遍历整个长方体数据集，找到目标点行位置信息；五、对步骤一得到的高光谱数据在图像维转置，重复步骤二至四直至遍历整个长方体数据集，找到目标点列位置信息，从而定位目标点在图像中的位置信息。该方法原理清楚，结构清晰，计算开销小，时间复杂性低，探测辨识率高，适用于单一背景下高光谱图像快速目标探测与定位应用。

主权项

一种基于差分与卷积核的线采样高光谱数据目标探测方法，其特征在于所述方法步骤如下：一、高光谱数据预处理，去除水分波段并进行去均值化处理；二、选择合适的步长对数据进行线采样，进行差分运算与卷积运算获得衡量采样长方体的特征值；三、选用合适的阈值对特征值进行处理，超过阈值的区域即包含目标点；四、重复步骤二和三，直至遍历整个长方体数据集，找到目标点行位置信息；五、对步骤一得到的高光谱数据在图像维转置，重复步骤二至四直至遍历整个长方体数据集，找到目标点列位置信息，从而定位目标点在图像中的位置信息。