| 摘要 |
L'invention concerne un procédé de calibration d'un système de visée comprenant un viseur et une optique de détection de la position d'un objet dans l'espace, caractérisé en ce qu'il comprend la détermination d'une loi de commande à appliquer au viseur pour viser l'objet en fonction de sa position, ladite position étant déterminée dans un référentiel de l'optique de détection et la loi de commande comprenant deux commandes angulaires et une commande de mise au point du viseur, exprimées en fonction des positions relatives entre l'objet à viser et un point concourant de toutes les lignes de visée du viseur,
le procédé comprenant les étapes consistant à :
- viser (100), avec le viseur des objets se trouvant à au moins six positions différentes connues dans le référentiel du système de visée et relever les commandes correspondantes,
- à partir des positions de l'objet et des commandes correspondantes, déterminer (200, 200') la position du point concourant des lignes de visées et la loi de commande par la minimisation d'une fonction de la dérivée seconde de la loi de commande. |
