| 发明名称 | 一种检测钯离子材料的荧光探针、制备方法及应用 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种检测钯离子材料的荧光探针、制备方法及应用。其中，荧光探针其结构通式为：<img file="DDA0000903398480000011.GIF" wi="469" he="286" />R为H，CH<sub>3</sub>或OCH<sub>3</sub>。与传统方法相比，荧光探针具有简便易操作、高选择性、高灵敏度和实时检测等优点。其可广泛应用于各行业中的钯离子污染物的检测，可大规模推广使用。 | ||
| 申请公布号 | CN105567219A | 申请公布日期 | 2016.05.11 |
| 申请号 | CN201610015428.2 | 申请日期 | 2016.01.08 |
| 申请人 | 深圳大学 | 发明人 | 赵晨;刘斌 |
| 分类号 | C09K11/06(2006.01)I;C07D409/04(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | C09K11/06(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人 | 王永文;刘文求 |
| 主权项 | 一种检测钯离子材料的荧光探针，其特征在于，其结构通式为：<img file="FDA0000903398450000011.GIF" wi="446" he="284" />R为H，CH<sub>3</sub>或OCH<sub>3</sub>。 | ||
| 地址 | 518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号深圳大学材料学院F203 | ||