发明名称 X射线探测
摘要 旋转阳极X射线管因为电子束更改旋转阳极的焦斑的表面的作用,而随时间劣化。当源被用在成像应用中时,这引起了在得到的对象图像中的劣化。讨论了一种X射线管壳体组件,其允许对这样的效应的校正。尤其是,X辐射的不被用于成像的额外的射束可以被用于校正这样的效应。
申请公布号 CN105580102A 申请公布日期 2016.05.11
申请号 CN201480048834.8 申请日期 2014.08.27
申请人 皇家飞利浦有限公司 发明人 R·K·O·贝林
分类号 H01J35/00(2006.01)I;A61B6/00(2006.01)I;H05G1/46(2006.01)I 主分类号 H01J35/00(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 李光颖;王英
主权项 一种能用于提供信号(126)的X射线管壳体组件(132),所述X射线管壳体组件包括:‑X射线管(102),其用于生成来自焦斑(104)的X辐射;‑参考滤波器(106);以及‑参考探测器(108);以及‑控制器(124);其中,所述X辐射包括主要部分(110)和参考部分(112),其中,所述主要部分不同于所述参考部分;其中,所述主要部分(110)和所述参考部分(112)在最小出射角(α<sub>最小,主要</sub>、α<sub>最小,参考</sub>)与最大出射角(α<sub>最大,主要</sub>、α<sub>最大,参考</sub>)之间,所述出射角是由基准平面(114)对向的始于所述焦斑(104)处的顶点的仰角;其中,所述参考部分和所述主要部分的所述最小出射角(α<sub>最小,参考</sub>、α<sub>最小,主要</sub>)彼此相等,并且所述参考部分和所述主要部分的所述最大出射角(α<sub>最大,参考</sub>、α<sub>最大,主要</sub>)彼此相等;其中,所述参考滤波器(106)被配置为在由所述参考探测器(108)对所述参考部分(112)的探测之前对所述参考部分(112)进行滤波;其中,所述参考探测器(108)被配置为探测所述参考部分(112),以提供参考信号(125);并且其中,所述控制器(124)被配置为基于所述参考信号来计算信号(126)。
地址 荷兰艾恩德霍芬