发明名称 |
一种集成电路的验证调试方法及系统 |
摘要 |
本发明适用于集成电路的调试技术领域,提供了一种集成电路的验证调试方法及系统。其中方法包括:接收合法配置信息;获取待验证集成电路的当前操作信息,并将当前操作信息与接收到的相应的合法配置信息进行比较,生成比较结果并输出。该方法是针对软件配置类错误或非法操作类错误而提出的,具体是通过对待验证集成电路的合法配置信息与当前操作信息进行比较,并输出比较结果来实现对集成电路的软件配置类错误或非法操作类错误的定位的。由于有效减少了对定位一些因异常操作而进行的仿真或对集成电路插入扫描链的复杂验证过程,减少了对集成电路的验证调试时间,提高了验证调试效率,节约了大量研发时间成本,收益明显,实现方式简单。 |
申请公布号 |
CN103294837B |
申请公布日期 |
2016.05.11 |
申请号 |
CN201210042767.1 |
申请日期 |
2012.02.23 |
申请人 |
安凯(广州)微电子技术有限公司 |
发明人 |
李钊辉;胡胜发 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
深圳中一专利商标事务所 44237 |
代理人 |
张全文 |
主权项 |
一种集成电路的验证调试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:接收合法配置信息;获取待验证集成电路的当前操作信息,并将所述当前操作信息与接收到的相应的所述合法配置信息进行比较,生成比较结果并输出;所述当前操作信息包括集成电路的当前地址。 |
地址 |
510663 广东省广州市科学城科学大道182号创新大厦C1区3楼 |