用于测试电子组件的点测装置

摘要

本发明公开一种用于测试电子组件的点测装置，主要包括固定架、活动座、感应开关、探针夹持座、以及控制器，其中，固定架包括升降导杆；活动座开设有直立通孔，活动座藉由直立通孔套设于固定架的升降导杆，并可相对升降滑移；感应开关设置于固定架与活动座之间；探针夹持座是耦接于活动座，且探针夹持座是用于固持探针；控制器电性连接感应开关，且控制器根据感应开关来控制施加电流、或电性信号于探针，据此，本发明能完全避免现有的用于测试电子组件的点测装置于电性接触接点间因积碳现象所导致的各种情况，且也可显著减少探针的磨耗、以及针痕的形成。

主权项

一种用于测试电子组件的点测装置，其特征在于，包括：一固定架，其包括一升降导杆；一活动座，其开设有一直立通孔，该活动座通过该直立通孔套设于该固定架的该升降导杆，并可相对升降滑移；一感应开关，其设置于该固定架与该活动座之间；一探针夹持座，其是耦接于该活动座，该探针夹持座是用于固持一探针；以及一控制器，其电性连接该感应开关，该控制器根据该感应开关来控制施加一电流、或一电性信号于该探针。