发明名称 一种晶圆测试用AMP板卡
摘要 本实用新型公开了一种晶圆测试用AMP板卡,所述晶圆包括若干个第一熔丝,所述晶圆测试用AMP板卡包括:电源单元、主控芯片、若干个供电切换单元、以及与若干个供电切换单元一一对应连接的若干个探针控制单元;所述主控芯片分别与所述电源单元、每个所述供电切换单元和每个所述探针控制单元连接,所述电源单元还与每个所述供电切换单元连接,所述探针控制单元包括第一继电器和第二熔丝,所述第一继电器通过所述第二熔丝与所述供电切换单元连接,所述第一继电器与对应的探针连接,所述探针与对应的所述第一熔丝连接。本实用新型的电路结构简单,设计合理,使用效果好,提高了测试效率,且能够保护探针控制单元。
申请公布号 CN205229404U 申请公布日期 2016.05.11
申请号 CN201521080789.2 申请日期 2015.12.22
申请人 上海威伏半导体有限公司 发明人 朱琦亮;郑东来;徐四九
分类号 G01R31/26(2014.01)I 主分类号 G01R31/26(2014.01)I
代理机构 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 代理人 冯子玲
主权项 一种晶圆测试用AMP板卡,所述晶圆包括若干个第一熔丝,其特征在于:所述晶圆测试用AMP板卡包括:电源单元、主控芯片、若干个供电切换单元、以及与若干个供电切换单元一一对应连接的若干个探针控制单元;所述主控芯片分别与所述电源单元、每个所述供电切换单元和每个所述探针控制单元连接,所述电源单元还与每个所述供电切换单元连接,所述探针控制单元包括第一继电器和第二熔丝,所述第一继电器通过所述第二熔丝与所述供电切换单元连接,所述第一继电器还与对应的探针连接,所述探针与对应的所述第一熔丝连接。
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