发明名称 | 用于工程改变数据分析的方法和系统 | ||
摘要 | 本发明提供一种用于工程改变数据分析的方法和系统,涉及半导体技术领域。所述用于工程改变数据分析的方法包括在线数据分析、缺陷数据分析、晶圆验收测试数据分析以及良率数据分析,还包括当工程改变等级涉及可靠性时,进行晶圆分类原始数据分析。所述用于工程改变数据分析的系统包括在线数据分析单元、缺陷数据分析单元、晶圆验收测试数据分析单元以及良率数据分析单元,还包括晶圆分类原始数据分析单元,用于当工程改变等级涉及可靠性时进行晶圆分类原始数据分析。上述方法和系统在工程改变数据分析中加入了对晶圆分类原始数据的分析,能够更为准确地得出新制程对工艺改变带来的影响。 | ||
申请公布号 | CN105574312A | 申请公布日期 | 2016.05.11 |
申请号 | CN201410538630.4 | 申请日期 | 2014.10.13 |
申请人 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 发明人 | 潘建峰;林光启 |
分类号 | G06F19/00(2011.01)I | 主分类号 | G06F19/00(2011.01)I |
代理机构 | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人 | 董巍;高伟 |
主权项 | 一种用于工程改变数据分析的方法,包括在线数据分析、缺陷数据分析、晶圆验收测试数据分析以及良率数据分析,其特征在于,所述方法还包括:当工程改变等级涉及可靠性时,进行晶圆分类原始数据分析。 | ||
地址 | 201203 上海市浦东新区张江路18号 |