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一种闪存交织校验纠错方法，所述闪存物理块包括个N个逻辑页，每个逻辑页包括M个扇区，N、M均为偶数，S(m,n)表示物理块中的一个存储扇区，其中，m为该扇区在逻辑页中的序号，m∈[1,M]，n为该扇区所处逻辑页的序号，n∈[1,N]，其特征在于，在写数据时，S(m,N)扇区不作为数据存储区，而是作为冗余校验区，且命名为校验扇区E(i,N)，i∈[1,M]；校验扇区E(i,N)根据下列公式的生成：当i＝1,M时：E(i,N)＝S(i+1,1)⊕S(i,2)⊕S(i+1,3)…⊕S(i,N‑2)⊕S(i+1,N‑1)当1<i<M时：E(i,N)＝S(i‑1,1)⊕S(i+1,1)⊕S(i,2)⊕S(i‑1,3)⊕S(i+1,3)…⊕S(i‑1,N‑1)⊕S(i+1,N‑1)上式中，公式等号右边的数据扇区S与E(i,N)共同构成了校验链C(i)；在读数据时，闪存控制器采用通常的校验码纠错失败时，查找出错扇区S’(i,j)所对应的校验扇区E(i,N)，然后，查找同时包含该校验扇区E(i,N)和出错扇区S’(i,j)的校验链C(i)，j∈[1,N]；计算获取出错扇区S’(i,j)中错误比特位U(i)，如下公式所示：当i＝1,N时：U(i)＝S(i+1,1)⊕S(i,2)⊕S(i+1,3)…⊕S(i,N‑2)⊕S(i+1,N‑1)⊕E(i,N)当1<i<N时：U(i)＝S(i‑1,1)⊕S(i+1,1)⊕S(i,2)⊕S(i‑1,3)⊕S(i+1,3)…⊕S(i‑1,N‑1)⊕S(i+1,N‑1)⊕E(i,N)U(i)为“1”则表示S’(i,j)在该错误比特位上的数据信息有错；翻转出错扇区S’(i,j)中U(i)为“1”的错误比特位上的数据，即得到正确的数据。 |
