发明名称 轴向张力法测试装置
摘要 本发明公开了一种轴向张力法测试装置,包括测试支架和底座,所述测试支架固定在底座上,所述测试支架的上方为一固定板,所述固定板下方安装一力值传感器,力值传感器的下方设置有光纤加持装置,所述测试支架的中间设有一沿着测试支架上下移动的活动板,所述活动板上方设置有另一光纤加持装置,本发明的光纤测试装置能够快速有效地测试光纤的轴向张力,通过分析其轴向张力来提高光纤产品的长期机械可靠性,本发明装置结构简单,安装测试方便,测试结果准确,制作成本低廉,适用于大多数光纤的轴向张力测试。
申请公布号 CN105547804A 申请公布日期 2016.05.04
申请号 CN201410603249.1 申请日期 2014.10.31
申请人 朱振新 发明人 朱振新
分类号 G01N3/02(2006.01)I;G01N3/08(2006.01)I 主分类号 G01N3/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种轴向张力法测试装置,其特征在于:包括测试支架(1)和底座(2),所述测试支架(1)固定在底座(2)上,所述测试支架(1)的上方为一固定板(3),所述固定板(3)下方安装一力值传感器(4),力值传感器(4)的下方设置有光纤加持装置(5),所述测试支架(1)的中间设有一沿着测试支架上下移动的活动板(6),所述活动板(6)上方设置有另一光纤加持装置(5)。
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