发明名称 Verfahren zur Ermittlung der Konfiguration eines Mikroskops
摘要 Verfahren zur Ermittlung der Konfiguration unterschiedlicher ansteuerbarer Mikroskope, bei dem ein Mikroskopbenutzer durch Zugriff auf vorhandene Gerätekonfigurationsdaten eines anzusteuernden Mikroskops und durch eine Benutzerführung im Dialog neue für Arbeiten am Mikroskop angepasste Gerätekonfigurationsdaten erhält, dadurch gekennzeichnet, dass der automatische Suchablauf einer Mikroskopsteuersoftware so erweitert wird, dass, wenn benötigte Informationen zu Gerätekonfigurationen nicht automatisch durch Abfrage am Mikroskop ermittelt werden können, die zu diesen nicht erkannten Geräteinformationen in Frage kommenden Alternativen in einem Dialogfenster aufgelistet werden und der Mikroskopbenutzer entscheiden kann, welche Alternative angewendet wird, dass nach einer Entscheidung des Mikroskopbenutzers entweder ein Teil der davon abhängigen Alternativen ausgeschlossen wird, oder neue, davon abhängige Alternativen hinzugefügt werden, und dass abschließend nach Durchlauf der Gerätekonfigurationsdaten eine neue vollständige Gerätekonfiguration für das anzusteuernde Mikroskop erstellt wird.
申请公布号 DE102008016262(B4) 申请公布日期 2016.05.04
申请号 DE20081016262 申请日期 2008.03.29
申请人 Carl Zeiss Microscopy GmbH 发明人 Leidenbach, Steffen
分类号 G02B21/00 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
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