Mustererkennungsvorrichtung und Mustererkennungsverfahren

摘要

Bereitgestellt wird eine Mustererkennungsvorrichtung zur Erzeugung mehrerer Systeme und Kombination der mehreren Systeme zur Verbesserung der Erkennungsleistung, umfassend eine diskriminative Trainingseinheit zur Konstruktion von Modellparametern eines zweiten oder nachfolgenden Systems, basierend auf einer Ausgabetendenz eines zuvor konstruierten Modells, so dass diese sich von der Ausgabetendenz des vorher konstruierten Modells unterscheidet. Wenn mehrere Systeme miteinander kombiniert werden, kann daher die Erkennungsleistung verbessert werden.