发明名称 一种基于光时域反射仪的光缆测试系统及测试方法
摘要 本发明公开了一种基于光时域反射仪的光缆测试系统,包括:订单指标数据表用以维护各个订单中每种型号光纤在各个波长的合格衰减范围;产品结构数据表用以维护用于描述产品的组成和各种属性的产品属性信息;测试参数数据表用以维护光时域反射仪测试时需要的各种测试参数;光时域反射仪测试系统从订单指标数据表中获取订单编号所对应光纤类型,从测试参数数据表中获得与光纤类型所对应的测试参数,根据所述测试参数设置光时域反射仪的测试环境,对产品进行测试,判断测试结果是否满足所述订单指标数据表中规定的合格衰减范围;并将测试结果保存到所述测试结果数据表中。本发明能够自动对产品进行测试,提高测试效率和测试准确率。
申请公布号 CN105547644A 申请公布日期 2016.05.04
申请号 CN201510928883.7 申请日期 2015.12.14
申请人 长飞光纤光缆股份有限公司 发明人 唐权斌
分类号 G01M11/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人 向彬
主权项 一种基于光时域反射仪的光缆测试系统,其特征在于,包括订单指标数据表、测试参数数据表、产品结构数据表、测试结果数据表以及光时域反射仪测试系统,其中:所述订单指标数据表用以维护各个订单中每种型号光纤在各个波长的合格衰减范围,订单指标数据表中至少包括订单编号、产品型号规格、产品所用光纤类型、芯数、长度、光波长以及合格衰减范围;所述产品结构数据表用以维护用于描述产品的组成和各种属性的产品属性信息,包括订单编号、产品型号规格、芯数、段长、盘号、印字号、结构、色谱和产品编号;所述测试参数数据表用以维护光时域反射仪测试时需要的各种测试参数,包括待测产品光纤类型、波长、脉宽、采样方式、平均时间、群折射率以及测试距离;所述光时域反射仪测试系统用于根据上述产品结构数据表中的产品编号关联的订单编号,从所述订单指标数据表中获取所述订单编号所对应的产品所用光纤类型,从所述测试参数数据表中获得与所述光纤类型所对应的测试参数,根据所述测试参数设置光时域反射仪的测试环境,以使所述光时域反射仪对所述产品结构数据表中所述产品编号所对应的产品进行测试,判断测试结果是否满足所述订单指标数据表中规定的合格衰减范围;并将测试结果保存到所述测试结果数据表中;所述测试结果数据表用来记录产品的测试结果,包括产品结构信息和测试结果,该信息至少包括产品编号、订单编号、产品型号规格、光纤类型、芯数,长度,芯数,段长、盘号、印字号、结构、色谱、光波长以及衰减。
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