用于确定和校正半导体阵列检测器的响应的稳定性的方法

摘要

本发明涉及用于确定和修正半导体阵列检测器的响应的稳定性的方法。本发明的一般领域是控制由像素构成的半导体阵列成像器的响应的稳定性的方法。所述方法包括描述所述像素的稳定性的特征的第一阶段以及校正测量过程中从所述像素产生的信号的第二阶段。根据本发明的方法其中一个特征是，像素根据预定准则分为稳定像素和不稳定像素，所述不稳定像素单独地与稳定像素相关联，所述稳定像素的特征作为对从所述不稳定像素产生的信号进行校正的基础。

主权项

一种控制由像素构成的半导体阵列成像器的响应的稳定性的方法，所述方法包括描述所述稳定性的特征的至少一个第一阶段和校正所述稳定性的至少一个第二阶段，其特征在于：所述第一阶段包括以下步骤：‑用随时间保持恒定的标准辐射照射检测器的像素一段预定持续时间；‑存储在所述预定持续时间内以规则时间间隔由每个像素输送的信号(S)；‑对于每个像素确定由每个像素输送的信号的幅值分布；‑通过代表所述分布的离散度的至少一个统计指标来描述每个分布的特征；‑基于该指标将每个像素分为至少两类像素，每类代表像素的时间响应的稳定性，属于第一类的像素表示为“稳定像素”，属于第二类的像素表示为“不稳定像素”，所述第二阶段包括以下步骤：‑根据预定准则将每个不稳定像素与至少一个稳定像素相关联；‑用待描述特征的辐射照射检测器的像素一段第二预定持续时间；‑存储对于在所述第二预定持续时间内取得的至少一个时间间隔由每个像素输送的信号；‑根据由与所述不稳定像素关联的稳定像素所产生的信号或多个信号，对由每个不稳定像素产生的信号或多个信号进行校正。