发明名称 |
厚度均匀的箔式应变计 |
摘要 |
本实用新型公开一种厚度均匀的箔式应变计,包括薄膜基底、敏感栅和密封层,所述薄膜基底与敏感栅热压贴合,所述热压贴合为薄膜基底与敏感栅在一定温度条件下热压复合,或薄膜基底与敏感栅通过热熔胶在一定温度条件下热压粘合;所述密封层热压贴合于敏感栅的上表面。通过将薄膜基底与敏感栅采用热压结合的方式,免去涂胶的工序,避免胶沾过程中薄膜基底与敏感栅难以定位贴合的情况,提高了应变计的生产效率,更容易实现批量化生产;同时,不会出现因涂胶不均匀而导致的基底厚度一致性差的情况,厚度更加均匀,在使用中性能更加稳定,精度更高,也增加了薄膜基底与敏感栅之间的粘贴力强度,进而提升了应变计的剥离强、耐腐蚀性能和综合性能指标。 |
申请公布号 |
CN205209473U |
申请公布日期 |
2016.05.04 |
申请号 |
CN201520840460.5 |
申请日期 |
2015.10.26 |
申请人 |
范红中 |
发明人 |
范红中 |
分类号 |
G01B21/32(2006.01)I |
主分类号 |
G01B21/32(2006.01)I |
代理机构 |
北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 |
代理人 |
陈双喜 |
主权项 |
一种厚度均匀的箔式应变计,包括薄膜基底、敏感栅和密封层,其特征在于:所述薄膜基底与敏感栅热压贴合,所述热压贴合为薄膜基底与敏感栅在一定温度条件下热压复合,或薄膜基底与敏感栅通过热熔胶在一定温度条件下热压粘合;所述密封层热压贴合于敏感栅的上表面。 |
地址 |
523000 广东省东莞市东城景湖春晓6栋1003 |