发明名称 一种光电探测器频率响应测量装置及其测量方法
摘要 本发明公开了一种光电探测器频率响应测量装置及其测量方法,属于光电子技术领域。本发明避免了现有技术中传统方法复杂的校准过程,测量装置包括半导体激光器、偏振控制器、电光调制器、微波信号源、波长可调谐激光器、光耦合器、待测光电探测器、频谱分析仪;所述半导体激光器、偏振控制器、电光调制器、光耦合器与待测光电探测器之间依次光路连接,所述波长可调谐激光器光路连接电光调制器;所述微波信号源与电光调制器之间为电路连接;所述待测光电探测器与频谱分析仪之间为电路连接。本发明具有测量准确度高、操作简单的优点。
申请公布号 CN103837188B 申请公布日期 2016.05.04
申请号 CN201310015436.3 申请日期 2013.01.16
申请人 电子科技大学 发明人 张尚剑;邹新海;王恒;张雅丽;刘永;陆荣国
分类号 G01D18/00(2006.01)I 主分类号 G01D18/00(2006.01)I
代理机构 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 代理人 徐丰;杨保刚
主权项 一种光电探测器频率响应测量装置,包括半导体激光器(1)、偏振控制器(2)、电光调制器(3)、微波信号源(4)、波长可调谐激光器(5)、光耦合器(6)、待测光电探测器(7)、频谱分析仪(8);所述半导体激光器(1)、偏振控制器、电光调制器、光耦合器与待测光电探测器之间依次光路连接,所述波长可调谐激光器光路连接电光调制器;所述微波信号源与电光调制器之间为电路连接;所述待测光电探测器与频谱分析仪之间为电路连接;其特征在于,包括以下步骤,①半导体激光器(1)输出的光波经偏振控制器(2)输入到电光调制器(3),由微波信号源(4)输出的微波信号经由电光调制器(3)调制到光载波上,调制后的光信号与波长可调谐激光器输出的光信号通过光耦合器入射到待测光电探测器,待测光电探测器的输出信号进入频谱分析仪中进行测量;②使半导体激光器输出光波的频率为ω<sub>1</sub>,使波长可调谐激光器输出光波的频率为ω<sub>2</sub>,ω<sub>1</sub>&gt;ω<sub>2</sub>,使微波信号的调制频率为ω<sub>m</sub>;在频谱分析仪上,将会观测到半导体激光器中心载波、‑1阶微波调制边带、+1阶微波调制边带分别与波长可调谐激光器(5)中心载波的拍频信号,三个拍频信号的频率分别为ω<sub>1</sub>‑ω<sub>2</sub>、ω<sub>1</sub>‑ω<sub>2</sub>+ω<sub>m</sub>和ω<sub>1</sub>‑ω<sub>2</sub>‑ω<sub>m</sub>,并且ω<sub>1</sub>‑ω<sub>2</sub>&gt;ω<sub>m</sub>,测量频率为ω<sub>1</sub>‑ω<sub>2</sub>+ω<sub>m</sub>和频率为ω<sub>1</sub>‑ω<sub>2</sub>‑ω<sub>m</sub>的拍频信号的幅度之比,此即待测光电探测器在两个频点的频率响应之比,通过改变微波调制频率ω<sub>m</sub>或者波长可调谐激光器输出光波的频率ω<sub>2</sub>,重复测量频率为ω<sub>1</sub>‑ω<sub>2</sub>+ω<sub>m</sub>和ω<sub>1</sub>‑ω<sub>2</sub>‑ω<sub>m</sub>的信号幅度之比,即可得到待测光电探测器在不同频率的响应特性。
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