发明名称 |
检测弯曲表面上的触摸 |
摘要 |
本文公开了若干实施例,这些实施例涉及具有弯曲的多触摸表面的输入设备。例如,在一个公开的实施例中,一种制造具有弯曲的触敏表面的多触摸输入设备的方法包括:在衬底上形成限定多触摸传感器的多个像素的传感器元件阵列,将衬底形成为与输入设备主体的弯曲几何特征的表面共形的形状,以及将衬底固定到输入设备主体的弯曲几何特征。 |
申请公布号 |
CN102378956B |
申请公布日期 |
2016.05.04 |
申请号 |
CN201080015282.2 |
申请日期 |
2010.03.26 |
申请人 |
微软技术许可有限责任公司 |
发明人 |
D.罗森菲尔德;J.维斯蒂斯;S.伊扎迪;N.维拉;H.本科;J.赫尔姆斯;K.A.詹金斯 |
分类号 |
G06F3/038(2013.01)I;G06F3/041(2006.01)I;G06F3/044(2006.01)I;G06F3/0354(2013.01)I |
主分类号 |
G06F3/038(2013.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
李亚非;刘鹏 |
主权项 |
一种制造用于计算设备的多触摸输入设备的方法(900,1500,2500),该多触摸输入设备包括具有弯曲几何特征的主体以及被配置成检测弯曲几何特征的弯曲表面上的触摸的多触摸传感器,该方法包括:在柔性、绝缘衬底上形成(902/906,1504,2502)限定多触摸传感器的多个像素的传感器元件阵列,每个像素被配置为检测该像素上方的该弯曲表面上的一个位置处的接触;将所述多触摸传感器耦合到控制器,响应于第一操作模式耦合到从该阵列的每一行和每一列到地的电容以及响应于第二操作模式耦合到从该阵列的每一行到该阵列的每一列的电容;将衬底形成(910,1506,2504)为与该弯曲几何特征的弯曲表面共形的形状;以及将衬底固定(912,1508,2506)到该弯曲几何特征的弯曲表面上。 |
地址 |
美国华盛顿州 |