| 发明名称 | 一种掺Cr硫化锌晶体材料中Cr的含量及分布的分析方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种掺Cr硫化锌晶体材料中Cr的含量及分布的分析方法，所述方法利用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法分析掺Cr硫化锌晶体材料中Cr的含量及分布，所述方法包括：1）在ZnS基质材料表面镀上Cr膜以制备若干Cr含量不同的Cr：ZnS固体标准物质，其中，Cr在Cr：ZnS固体标准物质中均匀分布；2）通过电感耦合等离子体原子发射光谱法或电感耦合等离子体质谱法得到所述固体标准物质中Cr的含量，采用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法测定所述固体标准物质中Cr的响应信号强度，绘制Cr标准工作曲线；3）对待测掺Cr硫化锌晶体材料样品进行激光剥蚀电感耦合等离子体质谱检测，得到待测样品中Cr的含量及分布。 | ||
| 申请公布号 | CN105548333A | 申请公布日期 | 2016.05.04 |
| 申请号 | CN201610049491.8 | 申请日期 | 2016.01.25 |
| 申请人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明人 | 朱燕;汪正;李超宇;张国震;屈海云;寇华敏 |
| 分类号 | G01N27/62(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/62(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人 | 曹芳玲;郑优丽 |
| 主权项 | 一种掺Cr硫化锌晶体材料中Cr的含量及分布的分析方法，其特征在于，所述方法利用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法分析掺Cr硫化锌晶体材料中Cr的含量及分布，所述方法包括：1）在ZnS基质材料表面镀上Cr膜以制备若干Cr含量不同的Cr：ZnS固体标准物质，其中，Cr在Cr：ZnS固体标准物质中均匀分布；2）通过电感耦合等离子体原子发射光谱法或电感耦合等离子体质谱法得到所述固体标准物质中Cr的含量，采用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法测定所述固体标准物质中Cr的响应信号强度，绘制Cr标准工作曲线；3）对待测掺Cr硫化锌晶体材料样品进行激光剥蚀电感耦合等离子体质谱检测，得到待测样品中Cr的含量及分布。 | ||
| 地址 | 200050 上海市长宁区定西路1295号 | ||