发明名称 |
磁控溅射装置及磁控溅射方法 |
摘要 |
本发明公开了一种磁控溅射装置及磁控溅射方法,磁控溅射装置包括:用于放置基片的基片台;与基片台相对布置的靶,用于放置向基片进行溅射的靶材;反应腔体,基片台和靶均设于反应腔体内;还包括:与靶对应的角度调节装置,用于调节对应的靶相对于基片台的角度。磁控溅射方法包括以下步骤:(1)清洗反应腔和基片,安装靶材;(2)调节靶相对于基片的角度、靶和基片之间的距离;(3)将反应腔体抽真空;(4)进行预溅射,同时开启基片台的旋转和摆动功能;(5)进行磁控溅射。该装置可用于高均匀性、良好重复性的大面积薄膜沉积,且可实现多层薄膜的连续溅射沉积;该方法可节约镀膜时间并提高镀膜效率。 |
申请公布号 |
CN105543792A |
申请公布日期 |
2016.05.04 |
申请号 |
CN201510912832.5 |
申请日期 |
2015.12.11 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
发明人 |
陈长平;佘鹏程;胡凡;陈庆广;毛朝斌;张赛 |
分类号 |
C23C14/35(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/35(2006.01)I |
代理机构 |
湖南兆弘专利事务所 43008 |
代理人 |
周长清 |
主权项 |
一种磁控溅射装置,包括:用于放置基片(105)的基片台(102);与所述基片台(102)相对布置的靶(104),用于放置向所述基片(105)进行溅射的靶材;反应腔体(101),所述基片台(102)和所述靶(104)均设于所述反应腔体(101)内;其特征在于,还包括:与所述靶(104)连接的角度调节装置,用于调节靶(104)相对于基片台(102)的角度。 |
地址 |
410111 湖南省长沙市天心区新开铺路1025号 |