发明名称 磁控溅射装置及磁控溅射方法
摘要 本发明公开了一种磁控溅射装置及磁控溅射方法,磁控溅射装置包括:用于放置基片的基片台;与基片台相对布置的靶,用于放置向基片进行溅射的靶材;反应腔体,基片台和靶均设于反应腔体内;还包括:与靶对应的角度调节装置,用于调节对应的靶相对于基片台的角度。磁控溅射方法包括以下步骤:(1)清洗反应腔和基片,安装靶材;(2)调节靶相对于基片的角度、靶和基片之间的距离;(3)将反应腔体抽真空;(4)进行预溅射,同时开启基片台的旋转和摆动功能;(5)进行磁控溅射。该装置可用于高均匀性、良好重复性的大面积薄膜沉积,且可实现多层薄膜的连续溅射沉积;该方法可节约镀膜时间并提高镀膜效率。
申请公布号 CN105543792A 申请公布日期 2016.05.04
申请号 CN201510912832.5 申请日期 2015.12.11
申请人 中国电子科技集团公司第四十八研究所 发明人 陈长平;佘鹏程;胡凡;陈庆广;毛朝斌;张赛
分类号 C23C14/35(2006.01)I 主分类号 C23C14/35(2006.01)I
代理机构 湖南兆弘专利事务所 43008 代理人 周长清
主权项 一种磁控溅射装置,包括:用于放置基片(105)的基片台(102);与所述基片台(102)相对布置的靶(104),用于放置向所述基片(105)进行溅射的靶材;反应腔体(101),所述基片台(102)和所述靶(104)均设于所述反应腔体(101)内;其特征在于,还包括:与所述靶(104)连接的角度调节装置,用于调节靶(104)相对于基片台(102)的角度。
地址 410111 湖南省长沙市天心区新开铺路1025号