发明名称 |
一种基于二氧化硅薄膜的低功耗阻变存储器及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于二氧化硅薄膜的低功耗阻变存储器,由衬底、Ti粘附层、底电极、阻变层和顶电极依次叠加构成,阻变层为疏松结构的二氧化硅薄膜。该阻变存储器的制备包括以下步骤:在衬底上制备一层Ti粘附层;在Ti粘附层上制备Pt底电极;在Pt底电极上通过射频磁控溅射方法制备二氧化硅薄膜阻变层;其中射频磁控溅射的工艺条件为:以二氧化硅靶为溅射靶材,腔室压力小于5×10<sup>-6</sup>Torr,溅射温度、溅射压力、溅射功率、氩气流量和氧气的体积分数都进行适当控制,在阻变层上通过直流磁控溅射法制备点状金属Ag薄膜作为顶电极,即得到阻变存储器。本发明产品具有制备温度低、操作电压低的优点。 |
申请公布号 |
CN105552220A |
申请公布日期 |
2016.05.04 |
申请号 |
CN201510933546.7 |
申请日期 |
2015.12.15 |
申请人 |
中国人民解放军国防科学技术大学 |
发明人 |
程海峰;刘东青;张朝阳;郑文伟 |
分类号 |
H01L45/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L45/00(2006.01)I |
代理机构 |
长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙) 43213 |
代理人 |
杨斌 |
主权项 |
一种基于二氧化硅薄膜的低功耗阻变存储器,由衬底、Ti粘附层、底电极、阻变层和顶电极依次叠加构成,其特征在于,所述阻变层为疏松结构的二氧化硅薄膜。 |
地址 |
410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号 |