发明名称 一种基于二氧化硅薄膜的低功耗阻变存储器及其制备方法
摘要 本发明公开了一种基于二氧化硅薄膜的低功耗阻变存储器,由衬底、Ti粘附层、底电极、阻变层和顶电极依次叠加构成,阻变层为疏松结构的二氧化硅薄膜。该阻变存储器的制备包括以下步骤:在衬底上制备一层Ti粘附层;在Ti粘附层上制备Pt底电极;在Pt底电极上通过射频磁控溅射方法制备二氧化硅薄膜阻变层;其中射频磁控溅射的工艺条件为:以二氧化硅靶为溅射靶材,腔室压力小于5×10<sup>-6</sup>Torr,溅射温度、溅射压力、溅射功率、氩气流量和氧气的体积分数都进行适当控制,在阻变层上通过直流磁控溅射法制备点状金属Ag薄膜作为顶电极,即得到阻变存储器。本发明产品具有制备温度低、操作电压低的优点。
申请公布号 CN105552220A 申请公布日期 2016.05.04
申请号 CN201510933546.7 申请日期 2015.12.15
申请人 中国人民解放军国防科学技术大学 发明人 程海峰;刘东青;张朝阳;郑文伟
分类号 H01L45/00(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙) 43213 代理人 杨斌
主权项 一种基于二氧化硅薄膜的低功耗阻变存储器,由衬底、Ti粘附层、底电极、阻变层和顶电极依次叠加构成,其特征在于,所述阻变层为疏松结构的二氧化硅薄膜。
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