发明名称 | 沟槽隔离结构及其形成方法 | ||
摘要 | 本发明一实施例提供一种沟槽隔离结构及其形成方法,该方法包括:提供一基板;在基板中形成一沟槽;在沟槽中顺应性地形成一第一绝缘层覆盖沟槽;在第一绝缘层上顺应性地形成一氮化物衬层;在氮化物衬层上形成一第二绝缘层,且填满沟槽;蚀刻第二绝缘层,使得第二绝缘层的上表面低于或等于基板的上表面;以及在第二绝缘层上形成一第三绝缘层覆盖第二绝缘层,其与第一绝缘层、氮化物衬层及第二绝缘层形成一沟槽隔离结构。本发明的沟槽隔离结构及其形成方法,能避免在沟槽隔离结构中形成空隙,可降低漏电流的发生。 | ||
申请公布号 | CN103594414B | 申请公布日期 | 2016.05.04 |
申请号 | CN201210294451.1 | 申请日期 | 2012.08.17 |
申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 卓旭棋;蔡耀庭;廖修汉 |
分类号 | H01L21/762(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/762(2006.01)I |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 董惠石 |
主权项 | 一种沟槽隔离结构的形成方法,其特征在于,该沟槽隔离结构的形成方法包括:提供一基板;在该基板中形成一沟槽;在该沟槽中顺应性地形成一第一绝缘层覆盖该沟槽;在该第一绝缘层上顺应性地形成一氮化物衬层;在该氮化物衬层上形成一第二绝缘层,且填满该沟槽;蚀刻该第二绝缘层,使得该第二绝缘层的上表面低于或等于该基板的上表面;以及在该第二绝缘层上形成一第三绝缘层覆盖第二绝缘层,其与该第一绝缘层、该氮化物衬层及该第二绝缘层形成一沟槽隔离结构。 | ||
地址 | 中国台湾台中市 |