发明名称 |
采用超声波快捷测定单晶材料的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法,利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。本发明采用超声波穿过待测产品,通过观察超声波的反射波形,即可判断材料是否为单晶材料,这样便可显著提高现场产品检测效率,是一种经济适用的检测方法。本发明简单快捷、经济适用、检测效率高。 |
申请公布号 |
CN105548357A |
申请公布日期 |
2016.05.04 |
申请号 |
CN201510962768.1 |
申请日期 |
2015.12.21 |
申请人 |
贵州大学 |
发明人 |
孙捷;王芹;黄碧芳;朱绍严;袁春 |
分类号 |
G01N29/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N29/04(2006.01)I |
代理机构 |
贵阳中新专利商标事务所 52100 |
代理人 |
李亮;程新敏 |
主权项 |
一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法,其特征在于:利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。 |
地址 |
550025 贵州省贵阳市花溪区贵州大学北校区科学技术处 |