发明名称 自动光学检测方法及实施该方法之自动光学检测系统
摘要 自动光学检测方法,首先将一待测物输送至一检测定位点,接着选择使用一第一影像撷取器或一第二影像撷取器撷取待测物的影像,若是使用第一影像撷取器时,需要配合操作一影像分析单元对待测物的影像进行分析处理判读是否存有不良点,若是使用第二影像撷取器时,藉由本身所内建之影像处理功能即可对待测物的影像进行分析处理判读是否存有不良点,最后使用一电脑取得经过分析处理后的影像资料与判读结果及对待测物进行分流管控,且将所取得的判读结果上传至一生产现场管控系统,藉此达到提高效率、维持良率,以及降低维护成本的效果。
申请公布号 TWI531787 申请公布日期 2016.05.01
申请号 TW104101828 申请日期 2015.01.20
申请人 环鸿科技股份有限公司 发明人 黄仁助;陈鑫舜;沈克昌;曾国斌;林雍健;王纬
分类号 G01N21/88(2006.01) 主分类号 G01N21/88(2006.01)
代理机构 代理人 吴宏亮;刘绪伦
主权项 一种自动光学检测方法,包含有下列步骤:a)将一待测物输送至一检测定位点;b)选择使用一第一影像撷取器或一第二影像撷取器对该待测物进行影像撷取,该第一影像撷取器并未具有影像处理功能,该第二影像撷取器具有影像处理功能;c)撷取该待测物的影像,若在步骤b)选择使用该第一影像撷取器时,操作一影像分析单元对该待测物的影像进行分析处理并判读是否存有不良点,若在步骤b)选择使用该第二影像撷取器时,藉由该第二影像撷取器所内建之影像处理功能对该待测物的影像进行分析处理并判读是否存有不良点;以及d)将影像资料与判读结果传送至一电脑,在使用该电脑的过程中,假如发现该待测物之影像在经过该第二影像撷取器的分析处理之后判断有出现不良点时,操作该影像分析单元对该待测物之影像进行第二次的分析处理并判读是否存有不良点。
地址 南投县草屯镇太平路1段351巷141号