发明名称 |
Halbleitervorrichtung |
摘要 |
Ein n–-Typ-Halbleitersubstrat (1) weist einen aktiven Bereich und einen Anschlussbereich, der außerhalb des aktiven Bereichs angeordnet ist, auf. Eine p+-Typ-Anodenschicht (2) ist in einem Teil einer oberen Oberfläche des n–-Typ-Halbleitersubstrats (1) in dem aktiven Bereich ausgebildet. Eine Mehrzahl von p+-Typ-Schutzringschichten (3) ist in einem Teil der oberen Oberfläche des n–-Typ-Halbleitersubstrats (1) in dem Anschlussbereich ausgebildet. Eine n+-Typ-Kathodenschicht (5) ist in einer unteren Oberfläche des n–-Typ-Halbleitersubstrats (1) ausgebildet. Eine Anoden-Elektrode (6) ist mit der p+-Typ-Anodenschicht (2) verbunden. Eine metallische Kathodenelektrode (7) ist mit der n+-Typ-Kathodenschicht (5) verbunden. Eine Vertiefung (8) ist durch ein Einkerben der n+-Typ-Kathodenschicht (5) in dem Anschlussbereich ausgebildet. Die Kathodenelektrode (7) ist auch in der Vertiefung (8) ausgebildet. |
申请公布号 |
DE112013007220(T5) |
申请公布日期 |
2016.04.28 |
申请号 |
DE20131107220T |
申请日期 |
2013.07.08 |
申请人 |
Mitsubishi Electric Corporation |
发明人 |
Otsuki, Eiko;Sadamatsu, Koji;Yoshiura, Yasuhiro |
分类号 |
H01L21/329;H01L29/06;H01L29/861;H01L29/868 |
主分类号 |
H01L21/329 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|