发明名称 Halbleitervorrichtung
摘要 Ein n–-Typ-Halbleitersubstrat (1) weist einen aktiven Bereich und einen Anschlussbereich, der außerhalb des aktiven Bereichs angeordnet ist, auf. Eine p+-Typ-Anodenschicht (2) ist in einem Teil einer oberen Oberfläche des n–-Typ-Halbleitersubstrats (1) in dem aktiven Bereich ausgebildet. Eine Mehrzahl von p+-Typ-Schutzringschichten (3) ist in einem Teil der oberen Oberfläche des n–-Typ-Halbleitersubstrats (1) in dem Anschlussbereich ausgebildet. Eine n+-Typ-Kathodenschicht (5) ist in einer unteren Oberfläche des n–-Typ-Halbleitersubstrats (1) ausgebildet. Eine Anoden-Elektrode (6) ist mit der p+-Typ-Anodenschicht (2) verbunden. Eine metallische Kathodenelektrode (7) ist mit der n+-Typ-Kathodenschicht (5) verbunden. Eine Vertiefung (8) ist durch ein Einkerben der n+-Typ-Kathodenschicht (5) in dem Anschlussbereich ausgebildet. Die Kathodenelektrode (7) ist auch in der Vertiefung (8) ausgebildet.
申请公布号 DE112013007220(T5) 申请公布日期 2016.04.28
申请号 DE20131107220T 申请日期 2013.07.08
申请人 Mitsubishi Electric Corporation 发明人 Otsuki, Eiko;Sadamatsu, Koji;Yoshiura, Yasuhiro
分类号 H01L21/329;H01L29/06;H01L29/861;H01L29/868 主分类号 H01L21/329
代理机构 代理人
主权项
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