发明名称 Kompaktsysteme, Kompaktvorrichtungen und Verfahren zum Messen von Lumineszenzaktivität
摘要 Kompaktsysteme, Kompaktvorrichtungen und Verfahren sind bereitgestellt, um Änderungen in Lumineszenz zu messen aufgrund von Umwelteinflüssen auf ein Lumineszenzmaterial. Solche Systeme, Vorrichtungen und Verfahren mögen in einer Kompaktvorrichtung implementiert sein, z.B. eine integrierte Schaltkreis Baugruppe, welche in eine Vorrichtung implementiert sein mag oder an einer Vorrichtung angebracht sein mag, wie beispielsweise ein Smartphone, Uhr, Taschenlampe, Fahrzeug, usw. Die Systeme, Vorrichtungen und Verfahren, welche hierin beschrieben sind, sind verwendbar um Lumineszenz zu messen genauso wie Änderungen der Lumineszenz, welche indikativ sind für Umwelteinflüsse, wie beispielsweise die Präsenz und Konzentration von einem Gas oder einer Chemikalie, Umgebungstemperatur, Druck, Licht, usw. in einem Bereich, welcher ein Lumineszenzmaterial umgibt, welches in einer Kompaktvorrichtung enthalten ist.
申请公布号 DE102015118133(A1) 申请公布日期 2016.04.28
申请号 DE201510118133 申请日期 2015.10.23
申请人 Avago Technologies General IP (Singapore) Pte. Ltd. 发明人 Stoll, Lothar;Weigert, Martin;Krabe, Detlef Bernd
分类号 G01N21/64;G01N21/76;H01L25/16;H01L31/12 主分类号 G01N21/64
代理机构 代理人
主权项
地址