发明名称 希土類酸化物/シリコン基板上で成長した、AIN中間層を含むIII−N材料
摘要 【課題】最終的なIII-N層16に加わる歪を減少させもしくは調節する。【解決手段】シリコン基板10の表面と結晶格子整合する単結晶希土類酸化物層11がシリコン基板10に配置される。III-N材料の第1層12が希土類酸化物層11の表面に設置され、窒化アルミニウム(AlN)の中間層14がIII-N材料の第1層12の表面に設置される。そしてIII-N材料の付加的な層16が窒化アルミニウムの中間層14の表面に設置される。窒化アルミニウムの中間層14およびIII-N材料の付加的な層16の堆積は、n回繰り返される。【選択図】図1
申请公布号 JP2016512485(A) 申请公布日期 2016.04.28
申请号 JP20150552718 申请日期 2014.01.03
申请人 トランスルーセント インコーポレイテッドTRANSLUCENT, INC. 发明人 アルクン,エルデム;レビー,マイケル;クラーク,アンドリュー;ダルギス,リティス
分类号 C30B29/38;C30B23/08;H01L21/20;H01L21/203;H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812;H01L33/32 主分类号 C30B29/38
代理机构 代理人
主权项
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