发明名称 |
希土類酸化物/シリコン基板上で成長した、AIN中間層を含むIII−N材料 |
摘要 |
【課題】最終的なIII-N層16に加わる歪を減少させもしくは調節する。【解決手段】シリコン基板10の表面と結晶格子整合する単結晶希土類酸化物層11がシリコン基板10に配置される。III-N材料の第1層12が希土類酸化物層11の表面に設置され、窒化アルミニウム(AlN)の中間層14がIII-N材料の第1層12の表面に設置される。そしてIII-N材料の付加的な層16が窒化アルミニウムの中間層14の表面に設置される。窒化アルミニウムの中間層14およびIII-N材料の付加的な層16の堆積は、n回繰り返される。【選択図】図1 |
申请公布号 |
JP2016512485(A) |
申请公布日期 |
2016.04.28 |
申请号 |
JP20150552718 |
申请日期 |
2014.01.03 |
申请人 |
トランスルーセント インコーポレイテッドTRANSLUCENT, INC. |
发明人 |
アルクン,エルデム;レビー,マイケル;クラーク,アンドリュー;ダルギス,リティス |
分类号 |
C30B29/38;C30B23/08;H01L21/20;H01L21/203;H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812;H01L33/32 |
主分类号 |
C30B29/38 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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