发明名称 |
Zwei-Schritt-Ausbildung von Metallisierungen |
摘要 |
Eine integrierte Schaltungsstruktur umfasst eine erste Leiterbahn, eine dielektrische Schicht über der ersten Leiterbahn, eine Diffusionsbarriere-Schicht in der dielektrischen Schicht und eine zweite Leiterbahn in der dielektrischen Schicht. Die zweite Leiterbahn umfasst einen ersten Abschnitt der Diffusionsbarriere-Schicht. Eine Durchkontaktierung liegt unter der zweiten Leiterbahn und verbindet die zweite Leiterbahn elektrisch mit der ersten Leiterbahn. Die Durchkontaktierung umfasst einen zweiten Abschnitt der Diffusionsbarriere-Schicht, wobei der zweite Abschnitt der Diffusionsbarriere-Schicht ein unteres Ende aufweist, das höher als eine Bodenfläche der Durchkontaktierung ist. |
申请公布号 |
DE102014115934(A1) |
申请公布日期 |
2016.04.28 |
申请号 |
DE201410115934 |
申请日期 |
2014.11.03 |
申请人 |
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. |
发明人 |
Lee, Ya-Lien;Lin, Chun-Chieh |
分类号 |
H01L23/532;H01L21/768;H01L23/538 |
主分类号 |
H01L23/532 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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