发明名称 Zwei-Schritt-Ausbildung von Metallisierungen
摘要 Eine integrierte Schaltungsstruktur umfasst eine erste Leiterbahn, eine dielektrische Schicht über der ersten Leiterbahn, eine Diffusionsbarriere-Schicht in der dielektrischen Schicht und eine zweite Leiterbahn in der dielektrischen Schicht. Die zweite Leiterbahn umfasst einen ersten Abschnitt der Diffusionsbarriere-Schicht. Eine Durchkontaktierung liegt unter der zweiten Leiterbahn und verbindet die zweite Leiterbahn elektrisch mit der ersten Leiterbahn. Die Durchkontaktierung umfasst einen zweiten Abschnitt der Diffusionsbarriere-Schicht, wobei der zweite Abschnitt der Diffusionsbarriere-Schicht ein unteres Ende aufweist, das höher als eine Bodenfläche der Durchkontaktierung ist.
申请公布号 DE102014115934(A1) 申请公布日期 2016.04.28
申请号 DE201410115934 申请日期 2014.11.03
申请人 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 发明人 Lee, Ya-Lien;Lin, Chun-Chieh
分类号 H01L23/532;H01L21/768;H01L23/538 主分类号 H01L23/532
代理机构 代理人
主权项
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