发明名称 SYSTEM UND VERFAHREN ZUR TEMPERATURERFASSUNG
摘要 Gemäß einer Ausführungsform beinhaltet ein Verfahren zum Betreiben einer Messschaltung das Vorspannen eines Messtransistors, um Strom durch einen ersten Leitungskanal in einer ersten Richtung während eines ersten Modus zu leiten, einen Messstrom in eine Body-Diode des Messtransistors während eines zweiten Modus zu injizieren, eine erste Spannung über dem Messtransistor zu messen, wenn der Messstrom injiziert wird, und eine Temperatur des Messtransistors auf Basis der ersten Spannung zu bestimmen. Wenn der Messstrom injiziert wird, wird er in einer zweiten Richtung injiziert, die der ersten Richtung entgegengesetzt ist. Der Messtransistor ist in einem Halbleiterkörper mit einem Lasttransistor integriert, der einen zweiten Leitungskanal aufweist, und der erste Leitungskanal und der zweite Leitungskanal sind an einen Eingangsknoten gekoppelt.
申请公布号 DE102015118345(A1) 申请公布日期 2016.04.28
申请号 DE201510118345 申请日期 2015.10.27
申请人 Infineon Technologies Austria AG 发明人 Furtner, Wolfgang
分类号 H03F1/52;G01K7/01;H01L23/62 主分类号 H03F1/52
代理机构 代理人
主权项
地址