| 摘要 |
본 발명은 지점들의 좌표들을 결정하기 위한, 특히 거리 측정을 위한 광학 측정 시스템, 특히 측지 측량 장치, 좌표 측정기 또는 스캐닝 장치에 관한 것이다. 측정 시스템은 방출 파장을 가지는 전자기 방사선을 방출하기 위한 방사원(52, 53) 및 간섭 원리에 따라 규정된 파장 범위에서 전자기 방사선을 추출하기 위한 필터 유닛(51) 및 필터 유닛(51)에 의해 추출될 수 있는 방사선이 검출기(56)에 의해 검출 가능한 방식으로 배열되는 검출기(56)를 가지는 수신 유닛을 포함한다. 게다가, 필터 유닛(51)은 적어도 부분적으로 반사성이 있고 다층 형식으로 구성되는 적어도 2개의 미러 요소들을 포함하고, 미러 요소들은 서로에 대해 실질적으로 평행하게 배향되고 2개의 인접한 미러 요소들은 각각의 경우에 공동을 둘러싸고 서로에 대해 특정 거리에 배열된다. 광학 두께는 공동의 굴절률에 의해 그리고 미러 요소들 사이의 거리에 의해 규정된다. 광학 두께 변경 수단은 필터 유닛(51)의 추출 가능한 파장 범위가 변경되도록 광학 두께를 변화시키기 위해 제공되고, 특히 광학 두께 변경 수단은 미러 요소들의 위치를 변경하기 위한 액튜에이팅 수단 및/또는 공동의 굴절률을 변경시키기 위한 굴절률 조정 수단을 가지며, 특히 광학 두께는 동작 중 연속해서 변할 수 있다. |
