发明名称 低损耗低介电常数微波介电陶瓷Ca<sub>3</sub>Bi<sub>2</sub>Ge<sub>3</sub>O<sub>12</sub>及其制备方法
摘要 本发明公开了一种低损耗温度稳定型低介电常数微波介电陶瓷Ca<sub>3</sub>Bi<sub>2</sub>Ge<sub>3</sub>O<sub>12</sub>及其制备方法。(1)将纯度为99.9%(重量百分比)以上的CaCO<sub>3</sub>、Bi<sub>2</sub>O<sub>3</sub>和GeO<sub>2</sub>的原始粉末按Ca<sub>3</sub>Bi<sub>2</sub>Ge<sub>3</sub>O<sub>12</sub>的组成称量配料;(2)将步骤(1)原料湿式球磨混合12小时,球磨介质为蒸馏水,烘干后在800℃大气气氛中预烧6小时;(3)在步骤(2)制得的粉末中添加粘结剂并造粒后,再压制成型,最后在850~900℃大气气氛中烧结4小时;所述的粘结剂采用质量浓度为5%的聚乙烯醇溶液,聚乙烯醇的添加量占粉末总质量的3%。本发明制备的陶瓷在900℃以下烧结良好,介电常数达到21.1~22.3,其品质因数Qf值高达79000-126000GHz,谐振频率温度系数小,在工业上有着极大的应用价值。
申请公布号 CN105523756A 申请公布日期 2016.04.27
申请号 CN201610087991.0 申请日期 2016.02.17
申请人 桂林理工大学 发明人 李纯纯;邓酩;卢锋奇
分类号 C04B35/453(2006.01)I;C04B35/64(2006.01)I 主分类号 C04B35/453(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种低损耗温度稳定型低介电常数微波介电陶瓷,其特征在于所述微波介电陶瓷的化学组成为:Ca<sub>3</sub>Bi<sub>2</sub>Ge<sub>3</sub>O<sub>12</sub>;所述微波介电陶瓷的制备方法具体步骤为:(1)将纯度为99.9%(重量百分比)以上的CaCO<sub>3</sub>、Bi<sub>2</sub>O<sub>3</sub>和GeO<sub>2</sub>的原始粉末按Ca<sub>3</sub>Bi<sub>2</sub>Ge<sub>3</sub>O<sub>12</sub>的组成称量配料;(2)将步骤(1)原料湿式球磨混合12小时,球磨介质为蒸馏水,烘干后在800℃大气气氛中预烧6小时;(3)在步骤(2)制得的粉末中添加粘结剂并造粒后,再压制成型,最后在850~900℃大气气氛中烧结4小时;所述的粘结剂采用质量浓度为5%的聚乙烯醇溶液,聚乙烯醇添加量占粉末总质量的3%。
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