LED灯综合测试仪

摘要

本实用新型涉及一种LED灯综合测试仪，包括高低温试验控制箱，所述高低温试验控制箱的一侧并接有LED光衰测试装置，且所述LED光衰测试装置配合于高低温试验控制箱布置。本实用新型通过对产品的不同温度的测试，来针对不同环境，使其产品提高使用寿命，降低成本的目的，同时还能通过该装置能及时作出相应的改进，更具备灵活性。

主权项

LED灯综合测试仪，其特征在于：包括高低温试验控制箱(1)，所述高低温试验控制箱(1)的一侧并接有LED光衰测试装置(2)，且所述LED光衰测试装置(2)配合于高低温试验控制箱(1)布置；所述高低温试验控制箱(1)由高低温试验箱(11)及高低温控制装置(12)组成，所述高低温控制装置(12)配合于高低温试验箱(11)布置，所述高低温试验箱(11)内开设有一放置产品的容纳腔(111)，所述容纳腔(111)内设置有固定放置架(112)，所述容纳腔(111)的一侧面上开设有通孔(113)，所述通孔(113)布置于与LED光衰测试装置(2)相并接的一侧面，所述通孔(113)上装嵌有透光组件(114)，所述高低温控制装置(12)由控制器(121)、高低温控制器(122)、温度感应器(123)、时长控制器(124)和电源控制器(125)组成，所述控制器(121)的输出端与高低温控制器(122)的输入端相连，所述控制器(121)的输出端还与温度感应器(123)的输入端相连，所述控制器(121)的输出端与时长控制器(124)的输入端相连，所述控制器(121)的输出端与电源控制器(125)的输入端相连，所述温度感应器(123)伸入至容纳腔(111)内布置，所述容纳腔(111)在高低温控制器(122)的控制下，所述容纳腔(111)的温度范围在‑50°～300°；所述LED光衰测试装置(2)由光衰测试通道箱(21)和光衰测试控制装置(22)组成，所述光衰测试通道箱(21)内开设有一光衰测试通道(211)，所述光衰测试通道(211)正对通孔(113)，并与固定放置架(112)上的产品相配合布置，所述光衰测试控制装置(22)由光衰控制器(221)、光衰感应器(222)、采集分析处理装置(223)组成，所述光衰控制器(221)的输出端与光衰感应器(222)的输入端相连，所述光衰感应器(222)的输出端与采集分析处理装置(223)的输入端相连，所述采集分析处理装置(223)的输出端与光衰显示器的输入端相连。