具有可变并行性和固件可升级性的灵活存储接口测试器

摘要

一种用在自动测试设备中的系统。在一个实施例中，该系统包括可配置的集成电路(IC)，该集成电路可编程为提供用在自动测试设备中的测试模式。该可配置的IC包括可配置的接口核，该接口核可编程为对于被测设备(DUT)提供一个或多个基于协议的接口的功能并且可编程为与DUT接口。该系统还包括可配置成将可配置的IC耦合到DUT的连接。

主权项

一种用于测试的系统，包括：可配置的集成电路IC，该集成电路可编程为提供用在自动测试设备中的测试模式，其中所述可配置的IC包括可配置的接口核，并且其中所述可配置的接口核可编程为对于至少一个被测设备DUT提供一个或多个基于协议的接口的功能并且可编程为与所述至少一个DUT接口；连接，所述连接可配置成将所述可配置的IC耦合到所述至少一个DUT；以及耦合在所述可编程的IC的可配置的测试器引脚与所述至少一个DUT之间的卡盒，其中所述卡盒是牺牲元件，以在所述至少一个DUT使用比所述可配置的测试器所使用的连接器失效得更快的连接器时保护可配置的测试器引脚。