发明名称 |
一种多电极测试方法及其装置 |
摘要 |
本发明公开了一种多电极测试装置,包括PCB板、多选一电子开关、测试器、电源;所述PCB板上设有多条相互平行的测量线;所述PCB板、多选一电子开关、测试器依次串联连接,所述测试器与电源连接;每个待检测的电极与至少一个所述测量线接触,所述多选一电子开关依次导通所述测量线使得与该测量线接触的电极、所述导通的测量线、多选一电子开关、测试器和电源构成闭合回路。 |
申请公布号 |
CN103513152B |
申请公布日期 |
2016.04.27 |
申请号 |
CN201310440410.3 |
申请日期 |
2013.09.24 |
申请人 |
浙江诺尔康神经电子科技股份有限公司 |
发明人 |
夏斌;李亚杰;王松 |
分类号 |
G01R31/02(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种多电极测试装置,其特征在于,包括PCB板、多选一电子开关、测试器、电源;所述PCB板上设有多条相互平行的测量线,这些测量线的间距不超过0.3mm;每个测量线连接并且只连接所述多选一电子开关的一个通道;所述PCB板、多选一电子开关、测试器依次串联连接,所述测试器与电源连接;测量状态下,每个待检测的电极与至少一个所述测量线接触,所述多选一电子开关依次导通所述测量线使得与该测量线接触的电极、导通的测量线、多选一电子开关、测试器和电源构成闭合回路。 |
地址 |
310011 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢325室 |