发明名称 |
一种基于多角度偏振成像的地物密度和岩石检测装置 |
摘要 |
本发明涉及一种基于多角度偏振成像的地物密度和岩石检测装置,包括一辐射特性稳定光源、一多角度观测平台、一高光谱成像装置、一计算机和一供电电源;所述高光谱成像装置包含一偏振组件、一光学镜头、一成像单元和一偏振组件调节装置,其中偏振组件、光学镜头和成像单元顺序同轴排列,光学镜头与成像单元固连且成像单元位于光学镜头的成像面上;所述计算机连接所述多角度观测平台和高光谱成像装置。本发明的装置能够获取岩石高光谱、偏振和图像三重信息,并利用设计的偏振模型自动实现岩石检测及岩石密度测量。 |
申请公布号 |
CN103743649B |
申请公布日期 |
2016.04.27 |
申请号 |
CN201310750971.3 |
申请日期 |
2013.12.31 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
晏磊;赵虎;杨彬;张飞舟;相云;陈伟;吴太夏;杨鹏;焦健楠 |
分类号 |
G01N9/00(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I |
主分类号 |
G01N9/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 |
代理人 |
余长江 |
主权项 |
一种基于多角度偏振成像的地物密度和岩石检测装置,其特征在于,包括一辐射特性稳定的光源、一多角度观测平台、一高光谱成像装置、一计算机和一电源;所述高光谱成像装置包含一偏振组件、一光学镜头、一成像单元和一偏振组件调节装置,其中偏振组件、光学镜头和成像单元顺序同轴排列,光学镜头与成像单元固连且成像单元位于光学镜头的成像面上;所述高光谱成像装置获取岩石高光谱、偏振和图像三重信息;所述计算机连接所述多角度观测平台和高光谱成像装置,通过采集的岩石表面反射光谱和偏振反射光谱,利用岩石的偏振信息和非偏振信息直接计算出岩石的不同波段反射比及自动分析岩石的物理化学性质,自动实现岩石检测及岩石密度测量。 |
地址 |
100871 北京市海淀区颐和园路5号北京大学 |