发明名称 具有特殊孔隙板的带电粒子显微镜
摘要 本发明涉及具有特殊孔隙板的带电粒子显微镜。一种带电粒子显微镜,包括:-样本保持器,用于保持样本;-源,用于产生带电粒子射束;-照射器,用于引导所述射束以便辐照所述样本;-检测器,用于检测响应于所述辐照而从样本发出的辐射通量;该照射器包括:-孔隙板,其包括在所述射束的路径中的孔隙区域,用于在射束撞击所述样本之前限定射束的几何形状,其中所述孔隙区域包括多个孔的分布,每个孔小于入射在所述孔隙板上的射束的直径。
申请公布号 CN105529235A 申请公布日期 2016.04.27
申请号 CN201510677465.5 申请日期 2015.10.16
申请人 FEI 公司 发明人 P.波托塞克;F.M.H.M.范拉亚霍文;F.博霍贝;R.肖恩马克斯;P.C.蒂伊梅杰
分类号 H01J37/26(2006.01)I;H01J37/147(2006.01)I 主分类号 H01J37/26(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 周学斌;陈岚
主权项 一种带电粒子显微镜,包括:‑样本保持器,用于保持样本;‑源,用于产生带电粒子射束;‑照射器,用于引导所述射束以便辐照所述样本;‑检测器,用于检测响应于所述辐照而从样本发出的辐射通量;其中照射器包括:‑孔隙板,其包括在所述射束的路径中的孔隙区域,用于在射束撞击所述样本之前限定射束的几何形状,其特征在于所述孔隙区域包括多个孔的分布,每个孔小于入射在所述孔隙板上的射束的直径。
地址 美国俄勒冈州
您可能感兴趣的专利