一种测量液膜厚度随时间变化的实验装置

摘要

本实用新型公开了一种测量液膜厚度随时间变化的实验装置，属于冷凝器或降膜蒸发器中液膜厚度的测量技术领域。包括CPU板，在CPU板上设有C51芯片；沿待测液膜的波峰设置与待测液膜底边垂直的中心线，在中心线上依次等距离布设9个电导探针，每个电导探针连接一根IC总线，9根IC总线的另一接头设置在CPU板上。该装置结构简单紧凑，响应快，测量精度适中，能够对实验室用20～30mm的液膜厚度进行测量。

主权项

一种测量液膜厚度随时间变化的实验装置，其特征在于，包括CPU板(10)，在CPU板(10)上设有C51芯片(12)；沿待测液膜(14)的波峰设置与待测液膜(14)底边垂直的中心线(15)，在中心线(15)上依次等距离布设9个电导探针，每个电导探针连接一根IC总线，9根IC总线的另一接头设置在CPU板(10)上；其中，1号～8号IC总线相互并联，并联后与0号IC总线串联形成闭合回路。