发明名称 利用金属薄膜产生并增强太赫兹波信号强度的系统和方法
摘要 本发明公开一种利用金属薄膜产生并增强太赫兹波信号强度的系统和方法,所述系统包括激光器、斩波器、太赫兹波探测器、衰减片、凸透镜、金属薄膜、气室和硅片,激光器、斩波器、衰减片、凸透镜、气室、硅片、太赫兹波探测器依次设置在光路上,金属薄膜设置在气室内的亚波长阵列孔结构氧化物模板上,激光器产生的飞秒激光通过斩波器进行斩波后,再经过衰减片,最后由凸透镜聚焦在亚波长阵列孔结构氧化物模板上的金属薄膜上,获得太赫兹辐射源;其中气室内的气体种类和压强均可调节,从氧化物模板出射的太赫兹辐射源,投射到硅片上,并由太赫兹波探测器接收。
申请公布号 CN105529599A 申请公布日期 2016.04.27
申请号 CN201610115629.X 申请日期 2016.03.01
申请人 首都师范大学 发明人 张亮亮;吴同;赵航;张存林
分类号 H01S1/06(2006.01)I 主分类号 H01S1/06(2006.01)I
代理机构 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人 孙皓晨;陈士骞
主权项 一种利用金属薄膜产生并增强太赫兹波信号强度的系统,其特征在于,所述系统包括激光器、斩波器、太赫兹波探测器、衰减片、凸透镜、金属薄膜、气室和硅片,其中:激光器、斩波器、衰减片、凸透镜、气室、硅片、太赫兹波探测器依次设置在光路上,金属薄膜设置在气室内的亚波长阵列孔结构氧化物模板上,激光器产生的飞秒激光通过斩波器进行斩波后,再经过衰减片,最后由凸透镜聚焦在亚波长阵列孔结构氧化物模板上的金属薄膜上,获得太赫兹辐射源;其中气室内的气体种类和压强均可调节,从氧化物模板出射的太赫兹辐射源,投射到硅片上,并由太赫兹波探测器接收。
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