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发明名称 遺伝子検査装置、遺伝子検査用試薬、および遺伝子検査方法
摘要
申请公布号 JP5909420(B2) 申请公布日期 2016.04.26
申请号 JP20120164298 申请日期 2012.07.25
申请人 株式会社日立ハイテクノロジーズ 发明人 佐々木 信彦;森島 大輔;前田 耕史;藪谷 千枝;坂本 直人
分类号 C12M1/00;C12Q1/68 主分类号 C12M1/00
代理机构 代理人
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