发明名称 Apparatus for Detecting the Defects of Graphene and the Detection Method of the same
摘要 본 발명은 그래핀의 결함 검출 장치, 결함 검출 방법 및 그래핀의 결함 검출의 기준이 되는 그래핀 결함 검출 지표의 산출 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 그래핀 결함 검출 장치는 그래핀에 백색광을 조사하는 백색광원; 상기 그래핀의 가시광 이미지를 촬상하는 디지털 카메라; 및 상기 디지털 카메라의 이미지를 입력받아, 상기 이미지의 픽셀별 상대 휘도를 기반으로 그래핀의 결함 유무, 결함의 종류 및 결함 위치를 판단하는 판단부;를 포함한다.
申请公布号 KR101615117(B1) 申请公布日期 2016.04.26
申请号 KR20140093010 申请日期 2014.07.23
申请人 한국기계연구원 发明人 김상민;맥이사알렉산더;김재현;김광섭;이승모;오충석;이학주;김경식
分类号 G01N21/88;G01N21/95 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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