| 摘要 |
컴퓨터 메모리 디바이스들의 멀티-사이트 테스트를 위한 방법 및 장치가 기술된다. 컴퓨터 메모리 디바이스들을 테스트하는 방법의 일 실시예는 다수의 메모리 디바이스들을 연결하는 단계를 포함하고, 각각의 메모리 디바이스는 시리얼라이저 출력(a serializer output) 및 디시리얼라이저 입력(a deserializer input)을 가지며, 제1 메모리 디바이스의 시리얼라이저 출력은 상기 복수의 메모리 디바이스들 중 하나의 또는 그 이상의 메모리 디바이스들의 디시리얼라이저 입력과 연결된다. 본 방법은 각각의 메모리 디바이스의 테스트 생성기를 사용해서 테스트 신호 패턴들을 생성하는 단계, 각각의 메모리 디바이스에서 테스트 신호 패턴을 직렬화하는 단계, 및 메모리 디바이스들의 테스트를 위해 직렬화된 테스트 패턴을 송신하는 단계를 더 포함하며, 메모리 디바이스들의 테스트는 제1 테스트 모드 및 제2 테스트 모드를 포함한다. |
