发明名称 多通道类比数位转换器
摘要 明涉及多通道类比数位转换器(ADC)中通道不平衡的补偿。所述多通道ADC充分补偿源自各种损伤的存在于各种信号内的损伤,例如相位偏移、振幅偏移和/或DC偏移,使得它们各自的数位输出样本准确地表示它们各自的类比输入。通常,各种多通道ADC确定各种统计关系,例如这些各种信号和各种已知校准信号间各种相关性,从而量化可存在于各种信号内的相位偏移、振幅偏移和/或DC偏移。各种多通道ADC调整各种信号,从而基于这些各种统计关系,充分补偿相位偏移、振幅偏移和/或DC偏移,使得它们各自的数位输出样本准确地表示它们各自的类比输入。
申请公布号 TWI531169 申请公布日期 2016.04.21
申请号 TW102120613 申请日期 2013.06.11
申请人 美国博通公司 发明人 汤 洛克;杰飞 史蒂芬;刘虹;何琳;普罗 兰朵;肯佳恩 彼得;高梅兹 罗曼;古斯麦 吉耶赛佩
分类号 H03M1/12(2006.01);H03M1/10(2006.01) 主分类号 H03M1/12(2006.01)
代理机构 代理人 庄志强
主权项 一种多通道类比数位转换器(ADC),被配置为将类比输入从类比信号域转换至数位信号域以提供数位输出样本,所述类比数位转换器包括:多个ADC,被配置为:于正常操作模式下,将类比输入从所述类比信号域转换至所述数位信号域,以提供多个第一数位输出段,所述多个ADC被配置为使用采样时钟的多个相位中的对应相位对所述类比输入进行采样,所述多个相位彼此偏移;以及于校准操作模式下,将校准信号从所述类比信号域转换至所述数位信号域,以提供多个第二数位输出段,所述多个ADC被配置为使用所述采样时钟的所述多个相位中的对应相位对所述校准信号进行采样;开关模组,被配置为交错所述多个第一数位输出段,以提供所述数位输出样本;以及损伤检测模组,被配置为:于所述校准操作模式下,产生已知特性的所述校准信号;以及确定所述多个第二数位输出段和所述校准信号之间的统计关系,以量化所述多个第一数位输出段于所述多个ADC内的损伤。
地址 美国