发明名称 Fin-Feldeffekttransistor (FinFET) -Bauelement und Verfahren zur Herstellung desselben
摘要 Es werden eine Fin-Feldeffekttransistor(FinFET)-Bauelementstruktur und ein Verfahren zum Ausbilden der FinFET-Bauelementstruktur geschaffen. Die FinFET-Bauelementstruktur umfasst ein Substrat und eine Fin-Struktur, die sich über dem Substrat erstreckt. Die FinFET-Struktur umfasst eine Epitaxialstruktur, die auf der Fin-Struktur ausgebildet ist, und die Epitaxialstruktur weist eine erste Höhe auf. Die FinFET-Struktur umfasst auch Fin-Seitenwandspacer, die angrenzend an die Epitaxialstruktur ausgebildet sind. Die Seitenwandspacer weisen eine zweite Höhe auf, wobei die erste Höhe größer als die zweite Höhe ist, und die Fin-Seitenwandspacer sind eingerichtet, ein Volumen und die erste Höhe der Epitaxialstruktur zu regulieren.
申请公布号 DE102015107182(A1) 申请公布日期 2016.04.21
申请号 DE201510107182 申请日期 2015.05.08
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. 发明人 CHENG, TUNG-WEN;ZHANG, ZHE-HAO;CHEN, CHANG-YIN;CHANG, CHE-CHENG;CHANG, YUNG-JUNG
分类号 H01L29/78;H01L21/20;H01L21/336;H01L21/76;H01L27/092;H01L29/04 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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