发明名称 |
Fin-Feldeffekttransistor (FinFET) -Bauelement und Verfahren zur Herstellung desselben |
摘要 |
Es werden eine Fin-Feldeffekttransistor(FinFET)-Bauelementstruktur und ein Verfahren zum Ausbilden der FinFET-Bauelementstruktur geschaffen. Die FinFET-Bauelementstruktur umfasst ein Substrat und eine Fin-Struktur, die sich über dem Substrat erstreckt. Die FinFET-Struktur umfasst eine Epitaxialstruktur, die auf der Fin-Struktur ausgebildet ist, und die Epitaxialstruktur weist eine erste Höhe auf. Die FinFET-Struktur umfasst auch Fin-Seitenwandspacer, die angrenzend an die Epitaxialstruktur ausgebildet sind. Die Seitenwandspacer weisen eine zweite Höhe auf, wobei die erste Höhe größer als die zweite Höhe ist, und die Fin-Seitenwandspacer sind eingerichtet, ein Volumen und die erste Höhe der Epitaxialstruktur zu regulieren. |
申请公布号 |
DE102015107182(A1) |
申请公布日期 |
2016.04.21 |
申请号 |
DE201510107182 |
申请日期 |
2015.05.08 |
申请人 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. |
发明人 |
CHENG, TUNG-WEN;ZHANG, ZHE-HAO;CHEN, CHANG-YIN;CHANG, CHE-CHENG;CHANG, YUNG-JUNG |
分类号 |
H01L29/78;H01L21/20;H01L21/336;H01L21/76;H01L27/092;H01L29/04 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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