发明名称 |
积体式含鳍部的场效电晶体及其制作方法 |
摘要 |
积体式含鳍部的场效电晶体(FinFET)及在主体晶圆上制作此种装置之方法,其中,在浅沟槽隔离(shallow trench isolation,STI)区域之上具有EPI界定鳍部高度。FinFET通道覆盖在半导体主体内之STI区域上,但鳍部延伸超越STI区域而进入植入于半导体主体内之源极和汲极区域中。有了主体源极和汲极区域,可提供减少之外部FinFET电阻,并且,有了延伸进入主体源极和汲极区域之鳍部,可在知的绝缘体上覆矽(silicon on insulator,SOI)装置上提供改善的热性能。 |
申请公布号 |
TWI531063 |
申请公布日期 |
2016.04.21 |
申请号 |
TW100127343 |
申请日期 |
2011.08.02 |
申请人 |
高级微装置公司 |
发明人 |
史屈特 理查T |
分类号 |
H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
洪武雄;陈昭诚 |
主权项 |
一种积体式含鳍部的场效电晶体(FinFET),包括:主体区域;配置在该主体区域之第一部分内之复数个实质平行之浅沟槽隔离(STI)区域;复数个源极和汲极区域,各该源极和汲极区域配置在该主体区域之第二部分内之该等复数个STI区域之邻接STI区域之间;复数个鳍部区域,配置实质上垂直于该复数个STI区域,而各该鳍部区域包含第一部分,配置在该复数个STI区域之一部分之上,以及第二部分,配置在该复数个源极和汲极区域之一部分内;以及复数个闸极区域,各该闸极区域配置在该复数个鳍部区域之各自部分和该复数个STI区域之各自其中一个之上,并且从该复数个源极和汲极区域之邻接区域横向离开。
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地址 |
美国 |