发明名称 |
一种触头尺寸综合检验装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种触头尺寸综合检验装置,包括工作机构和支撑机构,所述工作机构包括底板,底板上表面左右两侧设置有竖直导轨,中部及下端水平设置有通端检验部和止端检验部;所述支撑机构包括连接件和与连接件通过螺钉和螺母固定连接的支撑轴,连接件与底板通过连接螺钉固定连接。本实用新型结构简单、使用方便,实现了触头高度与直径尺寸的综合检验,提高了检测效率。 |
申请公布号 |
CN205175295U |
申请公布日期 |
2016.04.20 |
申请号 |
CN201520947434.2 |
申请日期 |
2015.11.25 |
申请人 |
中核(天津)科技发展有限公司 |
发明人 |
齐铁城;康慧 |
分类号 |
G01B5/02(2006.01)I;G01B5/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/02(2006.01)I |
代理机构 |
天津市宗欣专利商标代理有限公司 12103 |
代理人 |
胡恩河 |
主权项 |
一种触头尺寸综合检验装置,其特征在于:包括工作机构(1)和支撑机构(2),所述工作机构(1)包括底板(3),底板(3)上表面左右两侧设置有竖直导轨(6),中部及下端水平设置有通端检验部(4)和止端检验部(5);所述支撑机构(2)包括连接件(7)和与连接件(7)通过螺钉(9)和螺母(10)固定连接的支撑轴(8),连接件(7)与底板(3)通过连接螺钉(11)固定连接;所述通端检验部(4)形成多个通端方孔(12),止端检验部(5)上形成多个止端方孔(13);通端方孔(12)和止端方孔(13)孔截面呈长方形,通端方孔(12)孔截面的长度与触头直径的最大极限尺寸相匹配,宽度与触头高度的最大极限尺寸相匹配;止端方孔(13)孔截面的长度与触头直径的最小极限尺寸相匹配,宽度与触头高度的最小极限尺寸相匹配。 |
地址 |
300180 天津市河东区津塘路168号 |