发明名称 |
一种半导体器件及其制造方法和电子装置 |
摘要 |
本发明提供一种半导体器件及其制造方法和电子装置,涉及半导体技术领域。本发明的半导体器件包括半导体衬底、位于所述半导体衬底上的绝缘层、位于所述绝缘层上的位线、位于所述位线两侧的侧壁层以及位于所述侧壁层上的字线,其中,所述侧壁层高于所述位线,所述位线与所述字线在空间上交叉设置,所述位线的材料为TiAl,所述字线的材料为TiN。本发明的半导体器件由于分别采用TiAl和TiN作为位线和字线,因而位线和字线的均一性更容易控制,可以在一定程度上提高半导体器件的性能。本发明的半导体器件的制造方法,用于制造上述半导体器件,制得的半导体器件同样具有上述优点。本发明的电子装置包括上述的半导体器件,同样具有上述优点。 |
申请公布号 |
CN105514106A |
申请公布日期 |
2016.04.20 |
申请号 |
CN201410486979.8 |
申请日期 |
2014.09.22 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
甘正浩 |
分类号 |
H01L27/115(2006.01)I;H01L21/8239(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/115(2006.01)I |
代理机构 |
北京市磐华律师事务所 11336 |
代理人 |
高伟;赵礼杰 |
主权项 |
一种半导体器件,其特征在于,包括半导体衬底、位于所述半导体衬底上的绝缘层、位于所述绝缘层上的位线、位于所述位线两侧的侧壁层以及位于所述侧壁层上的字线,其中,所述侧壁层高于所述位线,所述位线与所述字线在空间上交叉设置,所述位线的材料为TiAl,所述字线的材料为TiN。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |