发明名称 一种半导体器件及其制造方法和电子装置
摘要 本发明提供一种半导体器件及其制造方法和电子装置,涉及半导体技术领域。本发明的半导体器件包括半导体衬底、位于所述半导体衬底上的绝缘层、位于所述绝缘层上的位线、位于所述位线两侧的侧壁层以及位于所述侧壁层上的字线,其中,所述侧壁层高于所述位线,所述位线与所述字线在空间上交叉设置,所述位线的材料为TiAl,所述字线的材料为TiN。本发明的半导体器件由于分别采用TiAl和TiN作为位线和字线,因而位线和字线的均一性更容易控制,可以在一定程度上提高半导体器件的性能。本发明的半导体器件的制造方法,用于制造上述半导体器件,制得的半导体器件同样具有上述优点。本发明的电子装置包括上述的半导体器件,同样具有上述优点。
申请公布号 CN105514106A 申请公布日期 2016.04.20
申请号 CN201410486979.8 申请日期 2014.09.22
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 甘正浩
分类号 H01L27/115(2006.01)I;H01L21/8239(2006.01)I 主分类号 H01L27/115(2006.01)I
代理机构 北京市磐华律师事务所 11336 代理人 高伟;赵礼杰
主权项 一种半导体器件,其特征在于,包括半导体衬底、位于所述半导体衬底上的绝缘层、位于所述绝缘层上的位线、位于所述位线两侧的侧壁层以及位于所述侧壁层上的字线,其中,所述侧壁层高于所述位线,所述位线与所述字线在空间上交叉设置,所述位线的材料为TiAl,所述字线的材料为TiN。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号