发明名称 一种变频组件自动测试系统
摘要 本实用新型涉及一种变频组件自动测试系统,包括上位机、控制模块和测试用仪表,其中:所述测试用仪表与所述上位机相连接;所述控制模块包括MCU、CPLD、数字时钟、RS232通信电路、参考晶振、三功分器、三个本振锁相环电路、脉冲驱动电路和标准TTL驱动电路。本实用新型采用宽带捷变频锁相环技术产生变频组件需要的本振射频信号,有效替代了现有技术的测试方案中所用的射频信号源,采用CPLD电路产生脉冲信号替代现有技术的测试方案中用到的脉冲发生器,极大的降低了测试成本,省却了射频仪表的控制连线,简化了测试环境。
申请公布号 CN205176179U 申请公布日期 2016.04.20
申请号 CN201521015873.6 申请日期 2015.12.09
申请人 扬州海科电子科技有限公司 发明人 王洪林;李希密;韦炜
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R23/16(2006.01)I;G01R13/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京文苑专利代理有限公司 11516 代理人 王炜
主权项 一种变频组件自动测试系统,其特征在于,包括上位机、控制模块和测试用仪表,其中:所述测试用仪表与所述上位机相连接;所述控制模块包括MCU、CPLD、数字时钟、RS232通信电路、参考晶振、三功分器、三个本振锁相环电路、脉冲驱动电路和标准TTL驱动电路,所述参考晶振与所述三功分器相连接,所述三个本振锁相环电路分别与所述三功分器相连接,所述MCU与所述三个本振锁相环电路相连接,所述RS232通信电路与所述MCU相连接,所述MCU与所述CPLD相连接,所述脉冲驱动电路和标准TTL驱动电路分别与所述CPLD相连接。
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