| 摘要 |
본 발명은 와전류 검사법을 이용한 전열관 부식량 예측방법에 관한 것으로, 구체적으로는 전열관 재료에 와전류 MRPC 탐촉자 검사를 수행하는 단계(단계 1); 상기 단계 1에서 수행된 MRPC 탐촉자 검사의 신호를 평가하는 단계(단계 2); 및 상기 단계 2에서 평가된 전열관의 MRPC 검사신호의 노이즈 값으로부터 전열관 재료의 부식량을 예측하는 단계(단계 3);를 포함하는 와전류 검사법을 이용한 전열관의 부식량 예측 방법 을 제공한다. 본 발명에 따른 전열관 부식량 예측방법을 이용하면, 전열관 재료의 와전류 MRPC 노이즈 검사를 통하여, 1차 계통 조건에서의 전열관의 부식량에 관한 기준을 요건화할 수 있고 부식량을 예측할 수 있으므로, 재료 선정단계에서 적은 부식량을 갖는 전열관 재료를 선정할 수 있는 효과가 있다. |
