发明名称 -Q SCAN CIRCUIT HAVING A REDUCED LEAKAGE POWER USING ENHANCED GATED-Q SCAN TECHNIQUES
摘要 q-게이트에 대한 특정 로직 게이트들은, 회로 설계에 대한 최소 누설 상태를 결정하고 그 후 회로 설계를 그 최소 누설 상태로 유지시키는 로직 게이트들을 선택함으로써 선택된다. 최소 누설 상태를 구현하도록 소망된 입력에 기초하여, 게이트는 NOR 또는 OR 게이트로서 선택될 수도 있다. 최소 누설 상태를 구현하도록 선택된 게이트들로 구현되는 q-게이트는 선택된 동작 모드들 동안 인에이블될 수도 있다. 회로의 최소 누설 상태는 자동 테스트 패턴 생성 (ATPG) 툴에 의해 결정될 수 있다.
申请公布号 KR101613445(B1) 申请公布日期 2016.04.19
申请号 KR20137009695 申请日期 2011.09.15
申请人 퀄컴 인코포레이티드 发明人 세트후람 라자마니;아라비 카림
分类号 H03K19/173 主分类号 H03K19/173
代理机构 代理人
主权项
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